4月17日，ISO/IEC JTC 1/SC 43第四届全会暨脑机接口技术与标准国际研讨会在中国天津举行。

研讨会邀请了来自中国、美国、德国、意大利、印度、韩国等国的13位专家围绕脑机接口技术演进、产品研发、互操作性、商业化、场景应用、科技伦理治理等方面作了主题报告。

微电子院脑机接口与智能交互团队参加本次论坛，聆听行业专家对脑机接口技术标准制定、创新研究及未来发展趋势的知识分享，对脑机接口技术的最新研究进展有了更清晰的了解，深入理解脑机接口技术将如何融入日常生活应用，提升健康生活品质。本次参会学习，对我院脑机接口核心技术研发、应用落地和标准制定等工作具有重要的推进作用。

本次会议由ISO/IEC JTC 1/SC 43秘书处主办，中国电子技术标准化研究院、中国医学科学院生物医学工程研究所联合承办。来自中国、美国、德国、印度、韩国、意大利、日本、澳大利亚等国的ISO/IEC JTC 1/SC 43国际专家，以及来自相关企业、科研院所200余名代表参加了会议。