10月21日，第二届全国集成微系统建模与仿真学术交流会在南京隆重开幕，214所MEMS微结构晶圆级全自动测试系统参展。

该款MEMS测试系统，是一种基于AI算法驱动的测试系统，可完成MEMS加速度计、陀螺等电容式微结构的晶圆级全自动测试，同时具备数据批量分析与map云图功能和异常测试数据预警，操作便捷、宽量程、易于拓展批量生产测试等优点，吸引了众多客户的驻足观看和咨询，并索要相关资料。

214所将继续提升技术与管理体系，理性面对市场需求，力争塑造出更多的精益产品服务于用户。