10月21日,第二届全国集成微系统建模与仿真学术交流会在南京隆重开幕,214所MEMS微结构晶圆级全自动测试系统参展。
该款MEMS测试系统,是一种基于AI算法驱动的测试系统,可完成MEMS加速度计、陀螺等电容式微结构的晶圆级全自动测试,同时具备数据批量分析与map云图功能和异常测试数据预警,操作便捷、宽量程、易于拓展批量生产测试等优点,吸引了众多客户的驻足观看和咨询,并索要相关资料。
214所将继续提升技术与管理体系,理性面对市场需求,力争塑造出更多的精益产品服务于用户。
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该款MEMS测试系统,是一种基于AI算法驱动的测试系统,可完成MEMS加速度计、陀螺等电容式微结构的晶圆级全自动测试,同时具备数据批量分析与map云图功能和异常测试数据预警,操作便捷、宽量程、易于拓展批量生产测试等优点,吸引了众多客户的驻足观看和咨询,并索要相关资料。
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技术支持:214所信息中心